基于挤压弯曲的柔性银导线力学可靠性试验研究

李 超， 孙 权， 秦宗慧， 汤成莉， 鹿业波， 陈建钧

（1. 华东理工大学机械与动力工程学院，上海 200237；2. 嘉兴学院机电工程学院，浙江嘉兴 314001）

为了改善传统微电子存在的脆性、较厚等缺点，以适应下一代电子产品柔韧性、便携性、人体适应性的需求，近年来可变形性柔性电子技术得到越来越多的关注[1]，被列为2000年世界十大科技成果之一。伴随着柔性电子的不断发展，大量相关电子产品日益走向市场，如电子皮肤[2]、薄膜太阳能电池板[3]、柔性电子显示器[4]、可穿戴电子衣[5]等，因此，在长期使用过程中对柔性器件的力学稳定性提出了越来越高的要求。典型的柔性器件系统中，金属薄膜制成的电极或互连体作为抗机械变形能力最差的部件之一，其在变形下的稳定性不仅需要考虑单次载荷，还需要考虑疲劳破坏的影响，尤其是当施加大应变时，柔性基底上的金属薄膜会因为裂纹的形成而发生疲劳损伤[6]，同时薄膜的微观形貌对导电性具有较大的影响。郑建华等[7]对电池银电极的形貌和导电性进行研究，发现银浆电极中乙基纤维素质量分数为6%时，电极具有较小的线宽和较大的厚度，其导电性也较优越，但没有进一步研究薄膜的微观孔隙率。

柔性器件中使用的金属薄膜和导电互连材料一般在微米级甚至纳米级尺度，受到材料尺寸和基底的约束，采用新的实验方法评价疲劳特性时要考虑3个因素[8]：（1）超低负荷单元和数据采集系统；（2）可靠的夹紧装置保证样品不受破坏；（3）精确的方法确定疲劳失效点。为了确定疲劳失效点，根据试样疲劳作用下力学性能的变化，提出了电阻法、机械能损失法、连续刚度法和直接监测疲劳损伤形成等方法[9]，其中电阻法[10-12]是一种在疲劳试验过程中实时测量薄膜电阻变化的方法。目前，疲劳试验方法大致可分为挤压弯曲加载、单轴循环拉伸加载、动态弯曲加载和共振加载，其中挤压弯曲加载方式简单方便。根据材料力学梁弯曲理论，柔性电子试样弯曲测试过程中金属薄膜的应力、应变与试样的弯曲曲率半径相关。汤朋朋等[13]根据欧拉梁理论建立有限元模型，针对柔性器件弯曲半径对层间分离影响进行机理研究，为柔性电子器件失效机理提供了理论参考意义，但没有对弯曲角度及弯曲曲率进行量化，而在弯曲过程中曲率半径的大小通常是影响失效的重要参数之一。因此，通过挤压运动的位移和材料自身属性确定出最小曲率半径对柔性电子弯曲可靠性研究具有重要意义。

为此，本文基于挤压弯曲加载方式对柔性电子弯曲稳定性进行探究，通过理论推导构建挤压弯曲测试中试样的挤压位移与弯曲曲率的定量关系，实现柔性电子耐弯曲性能测试中对弯曲曲率的精确控制。同时对薄膜弯曲性能进行研究，以探究不同浓度纳米银颗粒对制备的导线薄膜的疲劳弯曲性能的影响。

1 曲率半径分析及试验机系统结构

1.1 弯曲曲率半径分析

柔性银导线的挤压自由弯曲测试示意图如图1所示，试样基底简化为柔性杆，原始长度为L，弯曲过程中两端受到的轴向压力的大小为F，弹性模量为E,惯性矩为I，最小弯曲曲率半径为 ρ 。

图1 挤压自由弯曲图Fig. 1 Extrusion free bending diagram

由几何关系可知

图2 理想压杆大变形示意图Fig. 2 Large deformation of the ideal pressure bar schematic diagram

综上可得

大变形情况下弧长 ds与坐标x、y关系为

根据式（22）和式（23）即可获得挤压弯曲模式下，挤压位移与试样最小曲率半径的关系。为了验证理论推导的正确性，在柔性杆长度L为55 mm条件下，通过Matlab计算得到不同轴向位移下对应最小曲率半径的值如表1所示，经过拟合后得到的关系曲线如图3所示。

表1 轴向位移、转角、曲率半径的对应关系Table 1 Corresponding relationships of axial displacement, angle and radius of curvature

由于相纸对墨水具有良好的吸附性，适合银导线的打印，因此本文将打印在相纸基底上的导电薄膜作为研究对象。相纸经过多次弯曲后容易产生裂纹，所以，将相纸黏附在聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）膜上，可有效地提升柔性导线的耐弯曲性能。实验相纸厚0.2 mm，PET膜厚0.28 mm，试样长度L为55 mm，宽度d为15 mm，通过万能拉伸试验机测得复合基底弹性模量E为1.7 GPa。

通过ABAQUS有限元软件建立试样的二维平面模型，其中材料属性设置为弹性模量1.7 GPa，泊松比0.3。为了诱导模型弯曲，向模型提供一个向上的初始扰动位移。模型分析步选择静力分析；施加边界条件为：试样一端固定，另一端分别提供0～30 mm的水平挤压位移；网格划分单元类型为CPS4R。

图3 试样曲率半径与轴向位移关系Fig. 3 Relationship between radius of curvature and axial displacement of the sample

图4所示为挤压位移为25 mm时的ABAQUS仿真结果（默认应力平均阈值为75%），根据三点法求得最小曲率半径为6.07 mm，与对应理论值（6.05 mm）基本一致。ABAQUS在其他几组挤压位移下得到的曲率半径如图3所示，可以发现不同挤压位移对应的仿真结果与理论值基本一致，从而验证了理论推导的正确性。

图4 挤压位移为25 mm时的ABAQUS仿真结果Fig. 4 ABAQUS Simulation result of extrusion displacement of 25 mm

1.2 试验机系统结构

试验机系统主要结构如图5所示，试样用压片式夹具夹紧后，通过模型预测控制软件MPC I/O DEMO控制驱动器驱动步进电机，在滚珠丝杆的转动下使两滑台反向移动，软件界面设置单次或循环参数来控制滑台的位移、速度的大小。试验机如图6所示，测试平台上搭载的四探针与试样金属导线薄膜连接，将采集的电信号通过Keithley数字源表在电流-电压测试软件TSP Express上进行数据处理，通过电阻变化率来实时表征薄膜导线损伤情况。图7所示为挤压弯曲试验实物图。

图6 试验机示意图Fig. 6 Schematic diagram of the testing machine

图7 挤压弯曲试验实物图Fig. 7 Physical picture of extruded bending experiment

2 实验研究

实验研究基于不同质量分数纳米银颗粒墨水所制备的柔性银导线的耐弯曲性能。墨水通过微波法制备得到[15]，并分别进行1次和2次离心浓缩，得到纳米银颗粒质量分数分别为2.1%、4.3%和8.7%的原始墨水、一次浓缩墨水、二次浓缩墨水，分别记为1号（Ink1）、2号（Ink2）和3号（Ink3）墨水。墨水通过直写打印系统打印在相纸PET复合基底上形成导电图案，经低温烘干后热压烧结形成了柔性银导线试样[16]。

图8为扫描电镜拍摄的银导线薄膜表面形貌图。从图8可以看出墨水中纳米银颗粒质量分数越高薄膜孔洞越少，得到的银导线薄膜致密度也越高。分别测试试样的初始电阻，结果如图9所示。1号、2号、3号墨水制备的试样初始电阻分别为75±10、50±7 、( 1 0±4 ) Ω，即墨水中纳米银颗粒质量分数越高，制备的银薄膜导电性越好。这是因为薄膜孔隙率的大小和孔隙的分布都会影响薄膜的电导率，细小而分散的孔隙会将导电区域分隔开，导致电阻增大，从而降低薄膜的导电性。

通过试验机系统对3种纳米银颗粒质量分数不同的墨水制备的薄膜导线在理论最小弯曲半径为6.05 mm时进行测试，弯曲测试过程中，薄膜的损伤程度通常用电阻变化率η来表征：

式中：R为实时测试电阻，R0为初始电阻。

图8 试样扫描电镜表面形貌Fig. 8 SEM observations of the surface morphology of prepared samples

图9 不同质量分数墨水制备样品与初始电阻之间关系Fig. 9 Relationship between prepared samples of different mass fractions of ink and initial electrical resistance

图10示出了单次挤压周期下银导线电阻变化率曲线，可以看出纳米银颗粒质量分数高的墨水制备出的导线抗弯曲性较好，而质量分数低的墨水的导线抗弯曲性较差。因为大量微孔洞构成薄膜结构缺陷，载荷下孔隙容易打开和连接，为裂纹的萌生提供了诱导源，降低金属薄膜的强度，导致薄膜早期损伤破坏[17-18]。因此纳米银颗粒墨水质量分数越高，制备的薄膜致密度越大，单次弯曲下试样的抗弯曲性能越好。

弯曲疲劳测试中，薄膜电阻变化率与弯曲疲劳循环次数的关系曲线如图11所示，其中Rmax为每个弯曲周期过程中的最大电阻。可以看出随着弯曲疲劳循环次数的增加，电阻变化率逐渐增加；墨水中纳米银颗粒质量分数越低，制备薄膜电阻变化速率越小，即抗弯曲疲劳性能越好。若将电阻变化率100%作为弯曲疲劳失效临界值，则1号、2号和3号这3种墨水制备的薄膜的疲劳寿命分别约为8.2×103、 3 .2×103、 1 .7×103次弯曲循环(图11)。

图10 电阻变化率与单次弯曲关系Fig. 10 Relationship between change rate of the electrical resistance and single bending

图11 电阻变化率与弯曲疲劳循环次数关系Fig. 11 Relationship between change rate of the electrical resistance and the number of bending fatigue cycles

图12示出了弯曲疲劳循环后薄膜表面形貌，从图中可以发现局部已经发生断裂裂纹。实验研究表明，在薄膜的循环弯曲变形过程中，位错相互湮灭产生大量空位。由于空位是移动的，密度逐渐增加的空位最终会移动到汇聚点形成空隙，成为疲劳裂纹的裂纹源并增加薄膜电阻。高孔隙率的薄膜由于提供了大量的自由表面，使空位汇聚点的移动长度减小，空位更容易扩散到自由表面，大大减少空隙的形成，从而有效地抑制疲劳损伤演化，使多孔金属薄膜的电阻变化率低于致密金属膜。

图12 弯曲疲劳循环后薄膜断裂裂纹形貌Fig. 12 Morphology of the fracture crack of thin film after bending fatigue cycles

3 结 论

（1）基于挤压弯曲加载方式对柔性电子曲率半径进行分析，根据不同挤压运动位移定量推导出最小弯曲曲率半径，并通过有限元仿真及试验验证理论推导的正确性。

（2）弯曲试验表明，不同质量分数纳米银颗粒墨水制备出的薄膜性能有明显差异。墨水中银颗粒质量分数越低，制备的薄膜孔隙率越高，由于细小而分散的孔隙将导电区域分隔开，使薄膜初始电阻增大，从而降低薄膜的导电性。同时大量微孔洞的存在构成结构缺陷，降低薄膜的强度，使其抗弯曲性变差。但高孔隙率的薄膜提供了大量的自由表面，在循环弯曲变形过程中形成的空位更容易湮灭，反而能够有效地抑制疲劳损伤演化，提高薄膜弯曲疲劳稳定性。